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對反射信號的研究及在PCB板上的用途

發(fā)表時間:2020-10-01 09:02:21 人氣:3771

如果一根走線沒有被正確終結(jié)(終端匹配),那么來自于驅(qū)動端的信號脈沖在接收端被反射,從而引發(fā)不預(yù)期效應(yīng),使信號輪廓失真。當(dāng)失真變形非常顯著時可導(dǎo)致多種錯誤,引起設(shè)計失敗。同時,失真變形的信號對噪聲的敏感性增加了,也會引起設(shè)計失敗。如果上述情況沒有被足夠考慮,EMI將顯著增加,這就不單單影響自身設(shè)計結(jié)果,還會造成整個系統(tǒng)的失敗。

反射信號產(chǎn)生的主要原因:過長的走線;未被匹配終結(jié)的傳輸線,過量電容或電感以及阻抗失配。

5.2 延時和時序錯誤

信號延時和時序錯誤表現(xiàn)為:信號在邏輯電平的高與低門限之間變化時保持一段時間信號不跳變。過多的信號延時可能導(dǎo)致時序錯誤和器件功能的混亂。

通常在有多個接收端時會出現(xiàn)問題。電路設(shè)計師必須確定最壞情況下的時間延時以確保設(shè)計的正確性。信號延時產(chǎn)生的原因:驅(qū)動過載,走線過長。

5.3 多次跨越邏輯電平門限錯誤

信號在跳變的過程中可能多次跨越邏輯電平門限從而導(dǎo)致這一類型的錯誤。多次跨越邏輯電平門限錯誤是信號振蕩的一種特殊的形式,即信號的振蕩發(fā)生在邏輯電平門限附近,多次跨越邏輯電平門限會導(dǎo)致邏輯功能紊亂。反射信號產(chǎn)生的原因:過長的走線,未被終結(jié)的傳輸線,過量電容或電感以及阻抗失配。

5.4 過沖與下沖

過沖與下沖來源于走線過長或者信號變化太快兩方面的原因。雖然大多數(shù)元件接收端有輸入保護(hù)二極管保護(hù),但有時這些過沖電平會遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過元件電源電壓范圍,損壞元器件。

5.5 串?dāng)_

串?dāng)_表現(xiàn)為在一根信號線上有信號通過時,在PCB板上與之相鄰的信號線上就會感應(yīng)出相關(guān)的信號,我們稱之為串?dāng)_。

信號線距離地線越近,線間距越大,產(chǎn)生的串?dāng)_信號越小。異步信號和時鐘信號更容易產(chǎn)生串?dāng)_。因此解串?dāng)_的方法是移開發(fā)生串?dāng)_的信號或屏蔽被嚴(yán)重干擾的信號。

5.6 電磁輻射

EMI(Electro-Magnetic Interference)即電磁干擾,產(chǎn)生的問題包含過量的電磁輻射及對電磁輻射的敏感性兩方面。EMI表現(xiàn)為當(dāng)數(shù)字系統(tǒng)加電運(yùn)行時,會對周圍環(huán)境輻射電磁波,從而干擾周圍環(huán)境中電子設(shè)備的正常工作。它產(chǎn)生的主要原因是電路工作頻率太高以及布局布線不合理。目前已有進(jìn)行 EMI仿真的軟件工具,但EMI仿真器都很昂貴,仿真參數(shù)和邊界條件設(shè)置又很困難,這將直接影響仿真結(jié)果的準(zhǔn)確性和實用性。最通常的做法是將控制EMI的各項設(shè)計規(guī)則應(yīng)用在設(shè)計的每一環(huán)節(jié),實現(xiàn)在設(shè)計各環(huán)節(jié)上的規(guī)則驅(qū)動和控制。所有這些都需要靠經(jīng)驗來實現(xiàn)。實際上,在高速電路設(shè)計方面,有很多基礎(chǔ)理論都存在

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